TIME-OF FLIGHT-SECONDARY ION MASS SPECTROMETER.
Source : SEAOUniversité McGill · Méthode non publiée · fermé le 3 septembre 2019 à 15 h 00, heure du Québec
Faits
- Publication
- 31 juillet 2019
- Délai d'adjudication
- 78 jours après la clôturemédiane, tous avis confondus : 26 j (sur 119839 avis)
comment c'est calculé — Délai d'adjudication
Délai d'adjudication — d'où vient le nombre
- Le calcul
- Jours civils entre la clôture (3 septembre 2019) et la première date d'adjudication publiée pour cet avis (20 novembre 2019) : 78 jours.
- Ce qui entre
- Pour cet avis, toutes les adjudications datées comptent, quel que soit leur statut, et la plus ancienne date est retenue. La médiane de l'ensemble des avis, elle, ne retient que les avis dont la plus ancienne adjudication gagnante datée, ni annulée ni infructueuse, tombe le jour de la clôture ou après — sur 119 839 avis.
- La distribution
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- La source
- SEAO — Données Québec · CC-BY 4.0 · données à jour au 11 octobre 2026 · lien vers ce détail
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- Méthode
- 0
- Délai pour soumissionner
- 34 jours · calculé entre la publication et la clôture
comment c'est calculé — Délai pour soumissionner
Délai pour soumissionner — d'où vient le nombre
- Le calcul
- Jours entre la publication (31 juillet 2019) et la clôture (3 septembre 2019), arrondis au jour : 34 jours.
- Ce qui entre
- La source ne publie pas de durée pour cet avis : le nombre vient de ses deux dates. Un écart de moins d'une demi-journée, ou une clôture avant la publication, ne donne aucune fenêtre.
- La source
- SEAO — Données Québec · CC-BY 4.0 · données à jour au 11 octobre 2026 · lien vers ce détail
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- Montant
- — non déclaré
- Référence
- Avis nº C0001467
- UNSPSC
- 41100000Matériel de laboratoire
- Catégorie SEAO
- G27 — Instruments scientifiques
SEAO, Données Québec · données du 11 octobre 2026
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Description
100 %A time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) instrument that will enable world-class research on characterization of nanoparticles (NPs) and nanomaterials (NMs) and nano-enabled materials is sought. The instrument will be used for a wide variety of NP and NM samples of known and unknown chemistry - porous NMs; nanostructured soft materials; optoelectronic devices; 2D materials; as synthesized, procured, and exposed to the environment and biota.
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Given that NP and NM samples are sometimes sensitive to non-ambient (i.e. vacuum) conditions and are often one-of-a-kind, TOF-SIMS systems that can be used in a way to minimize the exposure of the samples to the vacuum environment and make the maximum utilization of each sample by minimizing the ion beam-induced damage or consumption are of greatest value. Additionally, when considering in vivo and environmental studies, the active or catalytic sites are contained in the outermost (sub) monolayer. In general, then, the use of a direct current (dc) ion beam for analysis is not acceptable due to rapid consumption of the molecular (sub) monolayer. Although NPs and NMs are a major area for use of the TOF-SIMS capability, its use for a variety of samples related to engineering and science research is envisioned.
SEAO, Données Québec · données du 11 octobre 2026
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Précédents — ce code chez cet acheteur
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Soumissionnaires
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Le prix à battre
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Historique de l'acheteur — derniers contrats adjugés
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Adjudication
| Année | Lauréat | Montant |
|---|---|---|
| 2019 | Physical Electronics USA Inc | 1 697 421 $déclaré |
| Contrat | Signé | Échéance | Montant du contrat |
|---|---|---|---|
| 1975954 | 2019 | 7 mai 2020 | 1 697 421 $déclaré |
SEAO, Données Québec · données du 11 octobre 2026
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Documents
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SEAO, Données Québec · données du 11 octobre 2026